武漢大學(xué)科研公共服務(wù)條件平臺(tái)300kV雙球差校正透射電子顯微鏡（JEM-ARM300F2）已經(jīng)安裝調(diào)試完成，即日起對(duì)校內(nèi)開放試運(yùn)行，歡迎校內(nèi)師生預(yù)約測(cè)試！

一、儀器參數(shù)配置

型號(hào)：JEM-ARM300F2（GRAND ARM2）

廠家：日本電子株式會(huì)社（JEOL）

燈絲類型：冷場(chǎng)發(fā)射電子槍

加速電壓：40 – 300 kV

TEM線分辨率：≤50 pm (300 kV)

STEM分辨率：≤53 pm (300 kV)

相機(jī)：Gatan Oneview和K3相機(jī)

能譜：JED-2300T（158 mm²雙探頭）

其他附件：SAAF、4D-STEM、EELS、IDES等附件

二、應(yīng)用領(lǐng)域

JEM-ARM300F2透射電鏡配備有獨(dú)特雙12極子球差校正器以及自動(dòng)校正軟件使其可以輕松實(shí)現(xiàn)超高原子級(jí)分辨率成像，同時(shí)結(jié)合超大面積雙EDS探頭可實(shí)現(xiàn)高效的元素分析。搭載有Gatan底插Oneview相機(jī)，在4k x 4k的全幅分辨率下可以以25fps的幀速率進(jìn)行實(shí)時(shí)觀察。GIF Continuum系統(tǒng)配備有直接電子探測(cè)的K3相機(jī)可以提升電子能量損失譜（EELS）的能量分辨率和性噪比，同時(shí)可以有效加快數(shù)據(jù)采集速度。電鏡全封裝外殼和主動(dòng)減震設(shè)備使其具備良好的穩(wěn)定性，在獲取原子級(jí)圖像的同時(shí)也可以高效的獲取EDS和EELS原子級(jí)Mapping。

三、溫馨提示

1、樣品要求：樣品無磁性；厚度在50納米以下；樣品要預(yù)先處理表面污染。

2、并非所有樣品都適合球差電鏡并獲得理想的數(shù)據(jù)結(jié)果，建議先在普通透射電鏡上篩選檢查樣品，再與實(shí)驗(yàn)老師探討可行性。

3、目前先開放高分辨和原子像拍攝功能（有其他功能需求的用戶可聯(lián)系實(shí)驗(yàn)老師討論樣品和實(shí)驗(yàn)方案）。

預(yù)約請(qǐng)登錄：http://facility.whu.edu.cn

地點(diǎn)：武漢大學(xué)尖端科技樓101A

聯(lián)系人：李老師 13163286278